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全自動(dòng)帶顯微鏡多點(diǎn)測(cè)量膜厚儀
WD4000中圖儀器無(wú)圖晶圓幾何測(cè)量系統(tǒng)PX 6786
GL-SPM-D2T光學(xué)薄膜測(cè)量?jī)xPX 10391
UltraFilm - 薄膜測(cè)量系統(tǒng)PX 7045
臺(tái)式離線接觸式測(cè)厚儀TOF-6R001PX 5249
SM280自動(dòng)顯微薄膜厚度測(cè)繪儀PX 2837
SpectraRay/4薄膜計(jì)量光譜儀軟件PX 1950
CGSR系列膜厚測(cè)量?jī)xPX 1603
MKF1-KW2-20036+428德國(guó)福鳥VOGEL測(cè)量?jī)x常規(guī)型號(hào)現(xiàn)貨PX 4320
BX-G3487高精度太陽(yáng)膜透過(guò)率測(cè)量?jī)xPX 3087
FPEH-MX70X晶圓翹曲度測(cè)量?jī)xPX 2777
kSA XRF 在線X射線熒光膜厚測(cè)試設(shè)備PX 2917
TruPlasma Match1000Huttinger 等離子射頻電源PX 2842
WD4000晶圓BOW值彎曲度測(cè)量系統(tǒng)PX 6786
WD4000晶圓顯微形貌測(cè)量系統(tǒng)PX 6786
UltraFilm薄膜測(cè)量系統(tǒng)PX 7045
FR-Ultra NIR N3 晶圓厚度測(cè)量系統(tǒng)PX 7045
FR-Ultra晶圓厚度測(cè)量系統(tǒng)PX 7045
FR-ES精簡(jiǎn)薄膜厚度測(cè)量?jī)xPX 7045
FR-Ultra 晶圓厚度測(cè)量系統(tǒng)PX 7045
WD4000晶圓厚度翹曲度測(cè)量系統(tǒng)PX 6786
雙鏡頭全自動(dòng)影像測(cè)量?jī)xPX 0
WD4000晶圓三維顯微形貌測(cè)量系統(tǒng)PX 6786
WD4000晶圓THK測(cè)量設(shè)備PX 6786
SM230自動(dòng)光學(xué)薄膜厚度掃描測(cè)繪儀PX 2837
SM200系列光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)xPX 2837
FR-portable便攜式光學(xué)膜厚儀PX 2837
FR-uProbe微米級(jí)光學(xué)薄膜測(cè)厚儀PX 2837
WD4000半導(dǎo)體晶圓形貌測(cè)量機(jī)PX 6786
WD4000晶圓厚度測(cè)量設(shè)備PX 6786
WD4000無(wú)圖晶圓厚度翹曲量測(cè)系統(tǒng)PX 6786
SENTECH SENDIRA薄膜計(jì)量紅外光譜橢圓儀PX 1950
SENTECH SENpro薄膜計(jì)量橢圓光譜儀PX 1950
SENresearch 4.0薄膜計(jì)量橢圓光譜儀PX 1950
SENTECH SE 500adv薄膜計(jì)量激光橢圓儀PX 1950
FTPadv Expert薄膜計(jì)量光譜反射儀軟件PX 1950
FTPadv薄膜計(jì)量膜厚探頭PX 1950
RM 1000/RM 2000薄膜計(jì)量光譜反射儀PX 1950
WD4000晶圓幾何形貌在線測(cè)量系統(tǒng)PX 6786
WD4000晶圓膜厚測(cè)量設(shè)備PX 6786
CGSR系列光學(xué)膜厚儀PX 1603
薄膜生長(zhǎng)設(shè)備
工藝測(cè)量和檢測(cè)設(shè)備
集成電路測(cè)試與分選設(shè)備
光刻及涂膠顯影設(shè)備
熱工藝設(shè)備/熱處理設(shè)備
硅片制備/晶體生長(zhǎng)設(shè)備
掩模版和中間掩模版制造設(shè)備
離子注入設(shè)備
干法工藝設(shè)備
濕法工藝設(shè)備
組裝與封裝設(shè)備
其它半導(dǎo)體行業(yè)儀器設(shè)備
中圖儀器無(wú)圖晶圓幾何測(cè)量系統(tǒng)
晶圓BOW值彎曲度測(cè)量系統(tǒng)
晶圓顯微形貌測(cè)量系統(tǒng)
晶圓厚度翹曲度測(cè)量系統(tǒng)
晶圓三維顯微形貌測(cè)量系統(tǒng)
晶圓THK測(cè)量設(shè)備
半導(dǎo)體晶圓形貌測(cè)量機(jī)
晶圓厚度測(cè)量設(shè)備
臺(tái)式離線接觸式測(cè)厚儀TOF-6R001
芯片半導(dǎo)體晶圓非接觸式光學(xué)3D表面輪廓儀
上海衡平儀器儀表有限公司
賽默飛色譜及質(zhì)譜
上海平軒科學(xué)儀器有限公司
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