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WD4000中圖儀器無圖晶圓幾何測量系統PX 6786
晶圓翹曲應力測量儀PX 2045
FLATSCAN薄膜表面應力儀PX 2464
半導體晶圓缺陷檢測儀PX 3227
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GL-SPM-D2T光學薄膜測量儀PX 10391
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HD-M-3手持式四探針測試儀PX 2413
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KLA Filmetrics R50系列四探針電阻測試儀PX 3001
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渦流法金屬薄膜電阻率測試儀PX 1799
FIC11BC晶圓電子束密閉檢測儀PX 3625
實惠EFFILUX 晶圓玻璃表面檢測燈 PSVLX1-F5016PX 4166
BEST-300C金屬膜四探針方阻電阻率檢測儀PX 5145
SM280自動顯微薄膜厚度測繪儀PX 2837
FLX-2320-R薄膜應力測試儀/日本TOHOPX 1532
YAMADA京都玉崎光學晶圓缺陷YP-150ID瑕疵現貨光源HPS-150PX 3312
ET8000型測量機PX 1950
KPM AP-D-LeAQUA-PICCOLO手持式皮革水分測試儀PX 2624
RM3000值得稱贊的的英國Jandel探針-德國赫爾納PX 2461
LPA812-3美國 Logosol 晶圓預對準器PX 3250
CGSR系列膜厚測量儀PX 1603
A-9531-0237Renishaw雷尼紹測頭PX 2200
TK-1SMALCOM馬康 探針測試儀PX 3815
國產晶圓搬運機PX 5332
RTS-3型手持式四探針測試儀半導體電阻儀PX 3994
MKF1-KW2-20036+428德國福鳥VOGEL測量儀常規型號現貨PX 4320
RM 3000赫爾納供應英國Jandel四探針探頭PX 4773
*YR(40A)直流電阻測試儀PX 3906
BDST-300C半導材料四探針測試儀PX 3824
半導體晶圓缺陷與少子壽命測試系統-SPM900PX 4656
SG-OEnlitech CIS/ALS/光傳感器晶圓測試儀PX 2730
MFNA-200福樂FLUORO缺口和定向器PX 2921
Full Deposition PSL Wafer校準晶圓標準品-半導體表征PX 2722
ZS美國MOUNTZ扭矩測試儀維修PX 3510
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-日本YAMADA山田半導體檢查燈--備庫銷售
日本ULVAC愛發科半導體灰化裝置NA系列
臺式離線接觸式測厚儀TOF-6R001
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