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超快瞬態吸收光譜系統 參考價：面議
超快瞬態吸收顯微成像,光催化測試,飛秒寬場探測,超快瞬態吸收光譜系統-TA100自動化系統：全自動光路切換、自動化光路校準；軟件：數據采集、數據分析擬合等。
超快熒光光譜系統 參考價：面議
熒光上轉換,超快熒光,熒光光譜系統,超快熒光光譜系統-UF100軟件：數據采集/分析軟件，微區檢測模塊：空間分辨率≤500nm。
大能量DPSS Nd:YAG納秒脈沖激光器 參考價：面議
LIBS探測光源,LIBS探測系統,大能量納秒激光器,大能量DPSS Nd:YAG納秒脈沖激光器是二極管泵浦Nd:YAG納秒脈沖激光器，具有輸出能量高、頻率高、...
高能高頻DPSS連續可調諧納秒激光器 參考價：面議
大能量納秒激光器,光聲成像,高功率激光器,高能高頻DPSS連續可調諧納秒激光器以其高能量輸出、高頻重復率、波長可調諧性、光束質量好、可靠性高、易于集成和環保節能...
Z掃描測試系統-ZTS100 參考價：面議
雙光子吸收測試,Z掃描測試系統-ZTS100抖動消除：參比雙通道信號同時采集；功率檢測范圍：50 nW-40 mW。
多功能激光掃描共聚焦熒光成像系統 參考價：面議
激光掃描共聚焦,光電流成像,載流子成像系統,多功能激光掃描共聚焦熒光成像系統-FLIM300熒光強度、壽命成像、載流子遷移成像、熒光/拉曼光譜采集、光電流成像、...
SiC晶圓質量成像檢測系統 參考價：面議
熒光壽命成像,晶圓位錯缺陷檢測,SiC晶圓質量成像檢測系統：晶圓襯底質量（載流子壽命）高速成像，快速篩查外延片晶格質量。
MICRO LED晶圓級綜合檢測系統 參考價：面議
晶圓位錯缺陷檢測，MICRO LED晶圓級綜合檢測系統明場/PL檢測類型：明場缺陷分析、電極缺陷分析、PL缺陷分析。
深紫外熒光系統 參考價：面議
飛秒熒光光譜,熒光光譜系統,深紫外熒光系統成像功能：熒光強度或光譜成像/熒光壽命成像/深紫外成像；激發波長：206nm/257nm/343nm/515nm。
科研級鈣鈦礦材料-器件綜合光譜表征系統 參考價：面議
鈣鈦礦疊層電池表征,鈣鈦礦組件效率優化方案,科研級鈣鈦礦材料-器件綜合光譜表征系統介紹：高精度PL/EL強度、發射光譜,時間分辨PL,PLQE,QFLS,贗J-...
科研級寬禁帶半導體綜合表征系統 參考價：面議
寬禁帶半導體材料表征，科研級寬禁帶半導體綜合表征系統介紹：TPL300-UV同時具備時間分辨、光譜分辨和空間分率功能。系統使用科研級正置顯微鏡和高精度XY位移臺...
鈣鈦礦太陽能電池綜合性檢測分析系統 參考價：面議
鈣鈦礦組件效率優化方案：鈣鈦礦疊層電池表征，鈣鈦礦太陽能電池綜合性檢測分析系統檢測時間＜10 min（10cm*10cm） 空間分辨率20 μm/100μm。
電激發納秒瞬態吸收光譜系統 參考價：面議
納秒瞬態吸收光譜,瞬態吸收光譜儀,飛秒瞬態吸收光譜,電激發納秒瞬態吸收光譜系統采用電控延遲系統和獨立超連續白光光源，用于檢測樣品在亞納秒到毫秒尺度的光/電誘導動...
高速探測器 參考價：面議
高速線陣CMOS探測,高速探測器類型：寬譜響應高速近紅外探測器、寬譜響應高速可見探測器、高靈敏高速可見探測器等。
穩態/瞬態熒光光譜系統 參考價：面議
穩態瞬態熒光,瞬態熒光光譜,熒光光譜系統TPL300成像模塊功能：熒光強度/壽命/光譜成像、載流子遷移成像、光電流成像。
超快時間分辨太赫茲光譜系統 參考價：面議
飛秒太赫茲光譜系統,時間分辨熒光光譜儀,超快熒光,飛秒熒光光譜,熒光光譜系統,超快時間分辨太赫茲光譜系統THZ100自動化系統：全自動光路切換、自動化光路校準；...
閃光光解系統 參考價：面議
激光閃光光解系統LFP100：OPO波長調諧范圍：210-350nm/420-700nm/720-2300nm。
超快泵浦探測陰影成像系統 參考價：面議
超快陰影泵浦探測,飛秒陰影泵浦探測,超快泵浦探測陰影成像系統UPSI100主要利用調節pump和probe光之間的光程差來進行測試。首先激光打在樣品上，樣品表面...
碳化硅襯底位錯缺陷光學無損檢測系統 參考價：面議
碳化硅襯底檢測,碳化硅成像檢測,碳化硅襯底位錯缺陷光學無損檢測系統：最高檢測速度：＜17min/片（6“）；BPD、TSD、TED分類識別。
非線性SHG測試系統 參考價：面議
SHG100非線性SHG測試系統電控位移臺：行程范圍20x20mm。支持同步觸發掃描，用于SHG成像。
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