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RESOChron雙年代測試系統 詳細摘要: RESOChron雙年代測試系統可以快速且低成本地獲得雙測年結果,通過光學干涉測量、X射線顯微層析或掃描電子顯微鏡測量剝蝕坑體積,該儀器適用于基礎地球科學研究中...
產品型號: 所在地:北京市 更新時間:2025-10-30 參考價: 面議 在線留言
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