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薄膜表面應(yīng)力儀
薄膜表面應(yīng)力儀是半導(dǎo)體制造中專門用于測(cè)量晶圓上薄膜應(yīng)力的精密檢測(cè)設(shè)備，基于激光掃描技術(shù)，主要用于分析薄膜材料的應(yīng)力分布、曲率成像及殘余應(yīng)力等參數(shù)。

型號(hào)： FLATSCAN 所在地：國外參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2025/9/17 14:44:23 對(duì)比

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應(yīng)力測(cè)量儀
應(yīng)力測(cè)量儀是一種基于激光掃描技術(shù)的精密檢測(cè)設(shè)備，主要用于分析薄膜材料的應(yīng)力分布、曲率成像及殘余應(yīng)力等參數(shù)。該設(shè)備在半導(dǎo)體制造、材料研發(fā)和質(zhì)量控制等領(lǐng)域具有關(guān)鍵應(yīng)...

型號(hào)： OEG FLATS... 所在地：國外參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2025/9/17 14:42:17 對(duì)比

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晶圓應(yīng)力測(cè)量儀
晶圓應(yīng)力測(cè)量儀是半導(dǎo)體制造中的關(guān)鍵檢測(cè)設(shè)備，主要用于非接觸式、無損地評(píng)估晶圓內(nèi)部的機(jī)械應(yīng)力場(chǎng)分布。其中核心工作原理主要基于以下幾種技術(shù)：光彈性效應(yīng)測(cè)量、曲率半徑...

型號(hào)：德國 FLATSC... 所在地：國外參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2025/9/17 14:40:01 對(duì)比

應(yīng)力測(cè)試儀薄膜應(yīng)力測(cè)試儀應(yīng)力檢測(cè)儀晶圓應(yīng)力測(cè)量儀應(yīng)力測(cè)試設(shè)備
薄膜應(yīng)力測(cè)試儀
FLATSCAN 薄膜應(yīng)力測(cè)試儀用于對(duì)各種反射面（如硅片、鏡面、X 射線鏡（Goebel-mirrors）、金屬表面或拋光聚合物）的平整度、表面曲率、平均半徑和...

型號(hào)： FLATSCAN 所在地：國外參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2025/9/17 13:47:30 對(duì)比

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