TT700超薄件超聲波測厚儀作為一種高精度測量設備，提供了兩種不同的測量模式：E模式（回波-回波模式）和E—E模式（回波-回波增強模式）。這兩種模式在實際應用中具有不同的特點與適用場景，本文基于該設備對其原理與使用進行簡要對比分析。

在E模式（回波-回波模式）下，儀器通過接收工件上下表面之間的多次回波信號進行厚度計算。該模式適用于表面狀況較好、材料均勻的試件，能夠有效減少耦合狀態對測量結果的影響，提高測量的穩定性和重復性。尤其適用于超薄件測量，低至可測0.15mm（鋼），并支持高分辨率顯示（0.001mm）。

而E—E模式（回波-回波增強模式）則在E模式的基礎上進一步優化信號處理能力，強化了對微弱回波信號的識別與解析。該模式更適用于表面具有涂層、氧化層或輕微腐蝕的工件，可穿越涂層直接測量基材厚度，避免了去除表面覆蓋層的麻煩，提升了檢測效率。

從使用角度來看，兩種模式均支持聲速校準和單點校準功能，用戶可根據實際材料特性進行設置，且測量結果均具備500組數據存儲能力，方便后續分析與追溯。

綜上所述，E模式與E—E模式在TT700測厚儀中分別面向不同工況需求：E模式更適用于潔凈、均勻材料的精密測量；E—E模式則更好地應對帶有覆蓋層或表面狀態復雜的檢測場景。用戶可根據實際應用需求靈活選擇相應的模式，以實現更準確、高效的厚度測量。