大高寬比AFM探針的科學定期維護保養方法分享

來源：探真納米科技（衢州）有限公司 2025年09月08日 13:35

　　在納米科技的精密世界中，大高寬比AFM探針是原子力顯微鏡的敏銳觸角，具有細長懸臂與尖銳針尖，專為測量深孔、溝槽、側壁等復雜三維結構而設計。然而，其結構纖細、易損，對使用環境與維護要求高。大高寬比AFM探針科學的定期維護保養，是延長其壽命、保障成像質量的關鍵。

　　一、使用后即時清潔

　　每次成像結束后，應立即用潔凈壓縮空氣或氮氣輕輕吹掃探針表面，去除樣品殘留的粉塵、有機物或鹽分。對于沾染有機物的探針，可使用無水乙醇或丙酮進行短暫浸泡（不超過1分鐘），隨后用惰性氣體吹干。避免長時間浸泡或超聲清洗，以防針尖斷裂或涂層脫落。

　　二、規范存儲

　　應存放于原廠提供的專用探針盒中，置于干燥、無塵、無強磁場的環境中。盒內通常配有干燥劑，需定期更換，防止濕氣腐蝕金屬涂層（如鋁反射層）。避免將探針暴露在空氣中過久，尤其在高濕度或含硫環境中，以防針尖氧化鈍化。

　　三、避免物理損傷

　　在大高寬比AFM探針更換與掃描過程中，必須使用顯微鏡輔助對位，防止與樣品或樣品臺發生碰撞。啟用“軟著陸”或“自動逼近”功能，避免手動粗調導致針尖折斷。掃描時選擇合適的掃描范圍與力模式，避免在接觸模式下使用過高載荷。

　　四、定期性能評估

　　建議建立探針使用檔案，記錄使用次數與成像區域。定期通過標準樣品（如光柵、納米顆粒）進行成像測試，觀察分辨率是否下降、圖像是否出現拖影或雙像。若發現針尖磨損、彎曲或污染，應立即更換，避免影響后續實驗。

　　五、環境控制

　　大高寬比AFM探針應在潔凈臺或防塵罩內操作，減少空氣中微粒的污染。保持實驗室溫濕度穩定，避免溫度波動引起熱漂移，影響穩定性。

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