多孔氮化硅TEM載網是一種專為透射電子顯微鏡(TEM)設計的高性能載網,它以高純單晶硅為基底,覆蓋一層超薄氮化硅(厚度10-50nm)作為支撐膜,能夠實現原子級分辨率的成像。
多孔氮化硅TEM載網的優勢:
1、原子級分辨率:厚度均勻,電子束穿透率高,成像背景噪音較低,可清晰呈現原子級結構,尤其適合球差電鏡的高分辨表征。
2、耐高溫與耐腐蝕:氮化硅膜可耐受1000℃高溫及酸性環境,適用于高溫樣品制備或酸性條件下的TEM觀察,而傳統銅網在此類條件下易變形或腐蝕。
3、無碳元素干擾:不含碳元素,避免了傳統碳膜載網在電子束輻照下積碳的問題,確保長時間觀察或高劑量輻照時成像質量穩定。
4、良好的電子束穿透性:超薄的氮化硅膜不含碳元素,能有效避免積碳,減少電子束散射,提供清晰的背景,尤其適合球差原子分辨表征,可獲得高質量的 TEM 圖像。
制備方法:
通常采用化學氣相沉積法(CVD)結合光刻、刻蝕等微納加工技術制備。如先通過 LPCVD 在硅片基底上沉積氮化硅薄膜,然后利用光刻技術在薄膜上形成圖案,再通過反應離子刻蝕(RIE)等方法刻出多孔結構,最后去除基底硅,得到多孔氮化硅 TEM 載網。
使用時避免在潮濕或腐蝕性環境中長時間暴露,以防氮化硅膜性能下降。
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