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在環境監測、食品安全、材料科學等領域，對樣品中痕量元素的精準定量分析是保障質量安全與推動技術創新的關鍵環節。賽默飛世爾科技推出的電感耦合等離子體發射光譜儀（ICP-OES），憑借其多元素同步檢測、高靈敏度與寬動態范圍等優勢，成為實驗室痕量分析的核心設備，可實現從ppb（十億分之一）到百分比級濃度的全覆蓋分析。
一、技術原理：等離子體激發與光譜解析的協同
賽默飛ICP-OES通過高頻感應線圈將氬氣電離形成高溫等離子體（溫度達6000-10000 K），使樣品中的元素原子化并激發至高能態。當原子返回基態時，會發射特定波長的特征光譜。儀器搭載中階梯光柵分光系統與二維陣列檢測器（CID），可同時捕獲200-900 nm波長范圍內的數百條光譜線，實現單次進樣分析多達70種元素，包括重金屬（如Pb、Cd、As）、營養元素（Ca、Mg、Fe）及稀土元素等。
二、核心優勢：高效、精準與靈活的平衡
1.多元素同步檢測
傳統方法需多次進樣或使用多臺儀器分析不同元素，而賽默飛ICP-OES通過全波長掃描模式，可在30秒內完成所有元素信號采集，顯著提升通量，尤其適用于大批量樣品（如水質監測、土壤普查）的快速篩查。
2.痕量檢測能力
采用軸向觀測等離子體設計與動態反應池技術，有效降低背景干擾，檢測限低至0.1-10 ppb，滿足歐盟RoHS指令、中國GB標準等嚴苛限值要求。
3.基質適應性廣
配備耐高鹽進樣系統與智能矩陣匹配算法，可直接分析海水、廢水、油品等復雜基質樣品，減少前處理步驟，降低人為誤差風險。
三、典型應用場景
1.環境監測：同步檢測水體中的重金屬污染（如Hg、Cr）及營養鹽。
2.食品安全：分析農產品中的重金屬殘留（如大米中的Cd）及添加劑元素。
3.材料科學：表征半導體材料中的摻雜元素（如B、P）或金屬合金成分。
賽默飛ICP-OES通過技術創新將痕量多元素分析的效率與準確性提升至新高度，其模塊化設計（如可選配自動進樣器、激光剝蝕進樣系統）進一步拓展了應用邊界。無論是科研探索還是工業質控，該儀器均為實驗室提供了一站式解決方案，助力用戶快速獲取可靠數據，加速決策進程。
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