表面微粒檢測儀是用于檢測固體或液體表面微粒污染的專業設備,廣泛應用于半導體、制藥、醫療器械及材料科學領域。其核心技術包括光學成像、激光散射和AI算法分析,可實現微米至納米級微粒的精準識別與分類。
技術與原理:
光學檢測技術:
激光散射成像:采用405nm激光光源,結合共聚焦顯微技術消除反射干擾。
光障礙法:通過微粒遮擋光束產生的信號變化計算粒徑(2-100μm),適用于透明液體(如注射液)。
圖像分析法:
高分辨率CMOS/CCD傳感器搭配顯微鏡頭,通過U-Net等AI模型自動分割微粒,分析形狀、粒徑及分布。
支持明場/暗場照明,增強透明微粒的檢測對比度。
多模態融合:
結合電子束檢測(EBI)與激光散射成像(LSI),提升復雜表面(如TSV結構)的檢測能力。
日常清潔與檢查:
光學系統維護:
每日使用前用無水乙醇擦拭傳感器窗口及光路組件,避免灰塵或樣品殘留影響檢測精度。
檢查激光光源強度,若發現衰減需校準或更換(建議每季度檢測光路穩定性)。
流體系統清潔:
每次檢測后需用純化水沖洗管路5次以上,黏稠樣品需增加熱水或有機溶劑清洗頻率。
每周更換0.45μm預過濾器,防止顆粒堵塞。
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