/recommend product
/Latest Products
?10月22日至24日，第十五屆中國國際納米技術產業博覽會與第六屆中國MEMS制造大會在蘇州國際博覽中心隆重舉行。在這場匯聚全球納米技術前沿成果的行業盛會上，探真納米科技帶著新推出的導電探針及系列探針
前言當“科研儀器開放共享”的議題與“國產儀器進校園”的需求碰撞，一場聚焦創新與合作的科研盛會在蘭州大學落下帷幕。探真納米科技攜自研自產AFM探針亮相“大型科研儀器開放共享研討會暨國產儀器進高校（蘭州大
喜訊！再添專利新名片！近日，淄博探微納米科技有限責任公司的創新成果——《一種高精度AFM探針貼片對準放置裝置》正式獲得國家知識產權局頒發的實用新型專利證書（專利號：ZL202422554191.8）。
在三坐標測量機（CMM）、電子探針臺、自動化檢測設備及精密裝配系統中，球形探針負責以微米級精度感知物體位置、輪廓或電學特性。其安裝質量直接決定了測量的重復性與可靠性。一次看似簡單的裝夾，實則是一門關乎
導電探針作為電學參數檢測的核心部件，其安裝質量直接影響測量精度與系統可靠性。以下從預處理、精準定位、電氣連接、防護優化四大環節詳述關鍵操作要點：一、基體表面預處理清潔度控制使用無水乙醇或丙酮擦拭待測區
在核磁共振（NMR）、電子順磁共振（EPR）、磁共振成像（MRI）及精密磁場測量等前沿科研與醫療領域，磁性探針負責發射射頻脈沖、接收原子核或電子自旋產生的微弱電磁響應，其靈敏度與穩定性直接決定數據質量
快速定位探針是自動化檢測、精密裝配、三坐標測量及半導體測試中的關鍵傳感元件，通過高靈敏度機械結構與電信號反饋，實現對工件位置、表面高度或電氣導通的瞬時探測與精確定位。廣泛應用于CNC加工中心、自動上下
原子力顯微鏡探針通過感知針尖與樣品表面間極微弱的原子力（如范德華力），實現對表面形貌、力學、電學等性質的原子級分辨率成像。原子力顯微鏡探針的品質與使用方法，直接決定了圖像的清晰度、分辨率與數據的可靠性
大高寬比AFM探針的針尖高達數十微米，橫截面小，結構纖細脆弱，易因靜電吸附、機械碰撞或環境污染而損壞。一支探針價格昂貴，且對成像質量至關重要。掌握大高寬比AFM探針的科學存放方法，為其打造一個潔凈、穩
原子力顯微鏡(AFM)探針作為納米級表征的核心耗材，其性能穩定性直接影響成像質量和實驗數據可靠性。科學的存放管理不僅能延長探針使用壽命，更能保障實驗結果的可重復性。以下從多維度解析專業級探針養護方案。
邊緣探針是集成電路（IC）測試、PCB板功能驗證中的“電路觸角”，負責在測試過程中建立芯片引腳或板邊金手指與測試設備之間的臨時電氣連接。其微小的針尖需在有限空間內實現高密度、低阻抗、高可靠性的接觸。然
暫無信息 |
1