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第二十六屆中國國際光電博覽會（CIOE）將于2025年9月10-12日在深圳國際會展中心舉辦。聚焦信息通信、精密光學、攝像頭技術及應用、激光制造、紅外紫外、智能傳感、新型顯示及AR/VR等八大前沿領域
2025IPF功率器件制造測試與應用大會即將開幕，會議于8月21日-22日在無錫梁鴻濕地麗笙度假酒店舉辦，為期兩天。本屆大會聚焦：功率半導體先進材料與晶圓“智”造、功率器件與功率系統集成功率器件的新應
SEMICONCHINA2025半導體行業盛會將于3月26日至28日在上海新國際博覽中舉辦。優尼康攜多款精密測量設備參展，歡迎新老朋友蒞臨觀展！識別下方二維碼「預約報名參展」SEMICON“優尼康展臺
為期三天的第25屆深圳國際光電博覽會圓滿閉幕。這次光博會，國內外光學同仁齊聚一堂，現場人潮涌動。優尼康科技有限公司攜多臺設備參加了此次盛會，吸引了眾多觀眾駐足參觀，并一起探討了優尼康設備在各種場景的應
本屆CIOE中國光電博覽會匯聚了來自全球超30個國家和地區的超3700家的優質參展企業，作為覆蓋光電全產業鏈的綜合型展會，覆蓋信息通信、精密光學、攝像頭技術及應用、激光及智能制造、紅外、紫外、智能傳感
KLA探針式臺階儀基于"探針接觸掃描+傳感器反饋"技術，通過探針與樣品表面接觸并掃描，結合高精度傳感器實時反饋位移變化，實現納米級至微米級臺階高度、表面形貌及應力的二維/三維測量。以下是其工作原理的詳
四探針電阻率測量儀是一種用于測量材料表面電阻的儀器，在電子制造行業，特別是在PCB板、纖維布、皮革、塑料等材料的表面電阻測試中，它被廣泛使用。下面我們來了解一下四探針電阻率測量儀的使用方法。首先，我們
實驗室的工作追求的是性，可是環境振動源的影響很容易成為一個問題，一些實驗可能由于輕微振動的影響而無法獲得的實驗數據。主動式減震系統就是為了解決這一問題產生的，它采用主動或被動的隔振措施隔離振動，提供水
KLA光學輪廓儀在鈣鈦礦電池到半導體制造的超薄膜厚度測量中，憑借其高精度、非接觸式測量和多功能性，成為關鍵工具，具體應用如下：一、鈣鈦礦太陽能電池中的超薄膜厚度測量TCO層測量：重要性：TCO層是鈣鈦
XRF鍍層測厚儀是高精度分析設備，長期使用可能因環境、操作或部件老化出現故障。及時排查隱患可保障測量穩定性，本文總結常見故障場景及應對方案。??一、測量數據偏差異常????1.基材污染??若數據持續偏
光學膜厚測量儀是一種用于測量材料表面涂層厚度的精密儀器，廣泛應用于金屬、塑料、陶瓷等材料的涂層厚度檢測。在日常使用過程中，膜厚儀可能會出現一些故障，需要進行維修。光學膜厚測量儀常見故障的維修解決方法：
探針式表面輪廓儀廣泛應用于表面形貌的測量與分析，其主要通過接觸式探針掃描被測表面，獲得其三維輪廓數據。然而，在長期使用過程中，設備可能會遇到各種問題和故障。了解常見故障的原因，并掌握相應的處理方法，對
一、白光干涉輪廓儀簡介白光干涉輪廓儀是一種高精度的測量設備，廣泛應用于表面輪廓的三維測量。其工作原理基于干涉效應，通過白光（即包含多種波長的光源）照射到待測表面，利用干涉條紋的變化來分析表面的形貌。與
FilmetricsF50自動Mapping膜厚測量儀依靠光譜測量系統，可以簡單且快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標移動平臺，可以快速的定位所需測試的點并測試厚度，測試非常快速，大約每秒能測試兩點。用戶可以自己繪制需要的點位地圖。Filmetrics...
無論您是想要知道薄膜厚度、光學常數，還是想要知道材料的反射率和透過率，FilmetricsF20單點光學膜厚測量儀都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝，通過USB連接電腦，設備就可以在數秒內得到測量結果。基于模塊化設計的特點，FilmetricsF20單點光學膜厚測量儀適用于...
HERZ主動式防震臺AVI-400電鏡因我們AVI而更精彩！!AVI主動式減震方案已經被不同行業高精密儀器廠家所采用,直接集成在系統框架上，取代傳統的空氣減震。如有您的儀器出廠時并沒有配置，現在我們可以為您實現！！簡單一步就能將儀器升級！！提升效能，提高精度！！您還在為低頻振動為...
Filmetrics薄膜測厚儀FilmetricsF40薄膜測厚儀結合顯微鏡的薄膜測量系統Filmetrics的精密光譜測量系統讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學常數，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內就可測量結果。當測量需要在待測樣品表面的某些微小限定區域進行...
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